技术参数
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型号规格 |
JQ-B240 |
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测试系统 |
测试模组/成像模组 / 暗室模组 |
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检测时间 （S） |
1~5S |
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检测对象 |
晶体硅组件；单晶/多晶 |
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检测方式 |
白天暗室检测/夜晚支架上组件直接检测 |
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可判断缺陷类型 |
隐裂/断栅/黑心/黑边/低效率片/烧结网纹/碎片/边缘过刻/材料缺陷 |
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成像系统 |
分辨率：2400W， |
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自动对焦 |
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内置无线传输模组/外接远程无线wifi |
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暗室系统 |
暗室帐篷 |
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面积(mm)：2200*2200*1300（可定制） |
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上电电源（可选） |
直流稳压电源 60V10A（标配） 便携式发电机（可选） 多组件供电电源（可选） |
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上电模式 |
手动连接组件上电 |
产品配置单
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序号 |
系统名称 |
规格 |
数量 |
单位 |
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1 |
成像系统 |
红外相机 |
1 |
套 |
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2 |
平板电脑 |
1 |
套 |
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3 |
无线wifi |
1 |
套 |
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4 |
暗室系统 |
暗室帐篷 |
1 |
套 |
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5 |
组件放置架 |
1 |
套 |
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6 |
暗室支架 |
1 |
件 |
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7 |
相机支架 |
1 |
件 |
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8 |
电源 |
直流稳压电源 |
1 |
台 |
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9 |
外接线 |
外接延长线 |
1 |
根 |
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10 |
其他 |
拉杆箱 |
1 |
件 |
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11 |
其他 |
手提包 |
1 |
件 |
