产综研将EL检测用于太阳能电池的劣化原因分析

　　日前，日本产业技术综合研究所（产综研）在成果报告会上发布了将EL测定用于有机太阳能电池劣化原因分析的成果。具体内容是，令有机太阳能电池EL发光，用TEM观察不发光区域（暗点）的断面。EL检测采用了日本ITES可用激光标记观察区域的检测装置。

　　当为在ITO上层叠PEDOT：PSS层、P3HT：PCBM层及Al电极的有机太阳能电池时，观察其暗点的断面会发现存在PEDOT：PSS块。受其影响，断面会存在P3HT：PCBM层局部变薄，或者PEDOT：PSS层有到达Al电极之处。PEDOT：PSS的这些异常会促使Al电极氧化，成为有机太阳电池劣化的一个原因。

　　此次的有机太阳能电池在形成时，在层积PEDOT：PSS层及P3HT：PCBM层等之后进行了热处理。此时存在PEDOT：PSS部分发生膨胀的可能性。产综研称利用EL检测可有效分析太阳能电池的劣化原因，今后将继续进行分析。（记者：河合 基伸）