SEMI中国光标委力推中国光伏企业面向全球技术话语权

SEMI中国光伏标准技术委员会2015年度夏季会议7月31日在青岛举行。会议由委员会联合主席张光春（阿特斯阳光电力集团首席运营官）先生主持，来自天合光能、晶澳太阳能、英利集团、协鑫硅材、中利腾晖、中能硅业、七星华创、中来光伏、赛维LDK、晶科能源、隆基硅材料、洛阳中硅、顺风绿景新能源、四十八所、海润光伏、杜邦、十一科技、埃地沃兹、SEMILAB、连城数控、河北大学等近50家企业及科研院所的100余位委员及专家代表参加了会议。



 在SEMI中国标准项目经理沈红女士介绍了SEMI标准会议的规范及反垄断和知识产权的提醒后，张光春主席宣布“SEMI中国光伏标准技术委员会2015年夏季会议”正式开始，SEMI全球副总裁、中国区总裁陆郝安博士感谢各位委员、代表参与本次会议，同时感谢埃地沃兹贸易（上海）有限公司对本次会议的大力承办及北京七星华创电子股份有限公司对会议的赞助。

大会以全票通过了沈红经理介绍的前次会议纪要，并听取了她作的SEMI Staff Report：SEMI现有相关标准928项，其中专门由光伏技术委员会发布的标准有63项，近期由中国光伏标准委员会牵头编制的如下5项标准也将于今年8月份向全球发布，在委员会的全体努力下中国光伏企业近几年在国际标准舞台上又赢得了更多的领导话语权！同时沈红经理呼吁更多的中国企业能利用SEMI标准平台多关注国际光伏技术及标准的进展，特别是日本、美国及台湾区的标准发展，对于巩固中国光伏在全球的引领地位意义重大！



将于8月向全球发布的5项SEMI光伏标准：

 Doc. 5659A, New Standard: Test Method Based on RGB for C-SI Solar Cell Color （晶体硅太阳电池颜色测试方法）——由英利牵头编制

 Doc. 5726, New Standard: Test Method for Determining the Aspect Ratio of Solar Cell Metal Fingers by Confocal Laser Scanning Microscope （晶体硅电池栅线电极高宽比的激光扫描共聚焦显微镜测试方法）——由英利牵头编制

 Doc. 5727, New Standard: Test Method for The Etch Rate of A Crystalline Silicon Wafer by Determining The Weight Loss（硅片腐蚀速率的称重法测试方法）——由英利牵头编制

 Doc. 5728, New Standard: Test Method for the Wire Tension of Multi-wire Saws （多线切割张力测试方法）--由48所牵头编制

 48th Institute

 Doc. 5477D, New Standard: Test Method for Determining B, P, Fe, Al, Ca Contents in Silicon Powder for PV Applications by Inductively-Coupled-Plasma Optical Emission Spectrometry（电感耦合等离子光发射谱法测硅粉中B、P、Fe、Al、Ca含量） -- 由洛阳中硅牵头编制

SEMI中国光伏标准技术委员会下8个标准编制工作组组长分别向大会就组内目前正在进行的标准草案进展进行了逐一汇报。 



大会认真审核并详细讨论了业内各公司提出的新标准提案（SNARF），从技术先进性、产业普遍性及需求性等方面进行了全方面的评审，最终批准立项了如下3项标准草案：

 New Standard: Specification for Dual-glass Module with Crystalline Silicon Terrestrial Solar Cell（地面用平面双层夹胶玻璃晶体硅太阳电池组件规范）——由天合提出

 Revision of SEMI PV22-1011, Specification for Silicon Wafers for Use in Photovoltaic Solar Cells（修订SEMI PV22-1011，太阳能电池用硅片规范）——由赛维LDK提出

 New Standard: Test Method for Bending Property of Flexible Thin Film PV Modules（柔性薄膜组件卷曲性能测试方法）——由汉能提出

同时委员会还认真审核并批准了以下3项标准草案进入全球第7个投票环节向全球技术专家公开征集意见，这意味着中国光伏企业在全球标准平台上又增多了技术发言权。

 Doc. 5478, New Standard: Test Method for Thin-film Silicon PV Modules Light Soaking（薄膜光伏组件光吸收测试方法）——由汉能牵头编制

 Revision of SEMI PV22-1011, Specification for Silicon Wafers for Use in Photovoltaic Solar Cells（修订SEMI PV22-1011，太阳能电池用硅片规范）——由赛维LDK牵头编制

 Doc. 5564C, New Standard: Test Method for the Measurement of Chlorine in Silicon by Ion Chromatography（硅粉中氯元素的离子色谱法测试）——由中能硅业牵头编制



SEMI全球副总裁、中国区总裁陆郝安博士还为新加入的SEMI中国光伏标准技术委员会核心委员，来自西安隆基硅材料股份有限公司的邓良平研发总监颁发了核心委员委任状。

最后核心委员投票决定2015年冬季会议将于11月20日在深圳举行，深圳市捷佳伟创新能源装备股份有限公司将承办具体会务工作。