序号 |
名称 |
规格 |
备注 |
1 |
被测物种类 |
硅片、电池片 |
厂商根据客户在规格书的附录1(客户选择规格表)中说明的所需被测物种类进行参数调整 |
2 |
被测物尺寸 |
长*宽=60*60~210*210 mm2 |
厂商根据客户在规格书的附录1(客户选择规格表)中说明的所需被测物尺寸范围进行参数调整 |
3 |
计数时间 |
0.5S~2.5S |
自适应测试时间,由被测物数量决定 |
4 |
单次可测量片数 |
1~210片 |
由可检测最大高度决定,硅片原料的可测最大数量为210片左右 |
5 |
计片影像可检测最大高度 |
45mm |
|
6 |
产品误判率 |
|
按操作规程,连续对色差均匀的硅片进行1000次测量,每次测量数量不一 |
7 |
平均无故障时间 |
8000小时 |